一，偵錯(cuò)要點(diǎn)

·可互換高低點(diǎn)，通過比較量測值，來決定較佳的參照值：標(biāo)準(zhǔn)值：

·缺件測量值顯示為-1，反向Mode 18量測值為負(fù)值，  Mode 8則低于下限。

·若互換高低點(diǎn)測量值差異不大可調(diào)整延時(shí)或?qū)嶋H值。

·若互換高低點(diǎn)測量值皆很低，可能是第三端接觸問題，可先檢查第三端是否接觸正常或待測電容有歪斜，可用換針或扶正待測電容方式解決。

·治具制作時(shí)第三端選用測試針，需考慮相同位置待用料的高度差異，以免造成接觸**或刺穿待測物的問題。

·三端電容測量是用來檢測缺件及反向，無法檢測錯(cuò)件。

·按F12，查看測量值曲線，以決定*佳的參照值和延時(shí)。

二，關(guān)于電容極性檢測方法

1.漏電流法

偵錯(cuò)要點(diǎn)：

·實(shí)際值以5V--10V測量時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)值之漏電流值約0.2mA--0.5mA，若反插時(shí)，其反向漏電流值會(huì)遠(yuǎn)大于正向漏電流值。高點(diǎn)之腳號即是電容+端之測試針號碼，而低點(diǎn)之腳號即是電容---端之測試針號碼，通常須加較大的延遲時(shí)間，漏電流才會(huì)穩(wěn)定。

·若因大電容并聯(lián)IC或電感等元件，可能會(huì)使電容正反向漏電流差異不大而無法偵測出其電容極性。

2.三端測試法

      電容極性測試的另一方法是三端測試，須在上方加一探針觸及殼體，在電容的正負(fù)極加載直流電壓，至充飽后測量殼體電壓，由于正負(fù)極與殼體間的阻電容的極性。以下為典型的設(shè)定。

實(shí)際值：為加載電壓，建議為0.2V